Het nieuwe X34C X-ray systeem van Mettler Toledo, fabrikant van weegschalen en analytische instrumenten, is gebaseerd op drie ontwerpprincipes: compact ontwerp, snelheid en nauwkeurigheid.
Met deze drie principes is het volgens het bedrijf mogelijk om eenvoudig en snel verontreinigingen in individuele verpakte producten te detecteren.
Mettler Toledo lanceert het nieuwe X34C X-ray systeem voor het opsporen van verontreinigingen in individuele verpakte producten.
Controles op product- en verpakkingskwaliteit
Door de compacte afmetingen van het systeem is de X34C in te bouwen in bestaande productielijnen. Naast de detectie doet het X34C X-ray systeem ook controles op de product- en verpakkingskwaliteit. Het systeem is ontworpen voor een hygiënische werking en eenvoudige toegang voor onderhoud vanaf de voorkant. Het heeft standaard een IP55 beschermingsklasse en is eveneens verkrijgbaar met IP65 voor stoffige productieomgevingen, informeert Mettler Toledo.
Artikel delen
VM Nieuwsbrief
Blijf op de hoogte met het laatste nieuws uit de verpakkende industrie
