Nieuwe X-ray techniek van METTLER TOLEDO voor lastig detecteerbare verontreinigingen

Nieuwe X-ray techniek voor lastig detecteerbare verontreinigingen

Techniek | partner_METTLER_TOLEDO | VerpakkingsManagement | juni 01, 2026

Mettler-Toledo Productinspectie heeft de X56 DXD+ geïntroduceerd, een nieuw X-ray inspectiesysteem binnen de X6-serie. Volgens de fabrikant is het systeem ontwikkeld voor de detectie van verontreinigingen met een lage dichtheid, zoals rubber en kunststof, in middelgrote en grote verpakte producten op één of meerdere productielijnen.

Het X-ray inspectiesysteem maakt gebruik van photon-counting dual-energy technologie, gecombineerd met kunstmatige intelligentie. Mettler-Toledo stelt dat deze combinatie de detectie van verontreinigingen met een lage dichtheid kan verbeteren, met name in producten met variaties in dikte, dichtheid of overlappende structuren.

Tekst gaat verder onder de foto.

Detecteren van verontreinigde aardappelpartjes met DXD+.

DXD+ Detectortechnologie en AMD Pro-software

De X56 DXD+ is uitgerust met DXD+ detectortechnologie en AMD Pro-software en heeft een systeembreedte van 500 mm. De oplossing is bedoeld voor middelgrote tot grote producten op één productielijn of kleinere producten op meerdere lijnen.

Het systeem beschikt naast verontreinigingsdetectie over functies voor kwaliteitscontrole, waaronder volledigheidscontrole, clipdetectie en inspectie van afdichtingen en kan tot 500 producten per minuut verwerken, informeert het bedrijf.

Centrale monitoring en registratie inpectiegegevens

Het X-ray inspectiesysteem kan worden geïntegreerd met de ProdX-datamanagementsoftware van Mettler-Toledo voor centrale monitoring en registratie van inspectiegegevens.